材质 | 铸铁 钢材 |
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规格 | 透反射观察 |
类型 | 正置式金相显微镜 |
适用范围 | 工业领域;高校实验 |
重量 | 18kg |
仪器放大倍数 | 50x-1600x |
目镜放大倍数 | WF10X |
物镜放大倍数 | 5x 10x 20x 50x |
装箱数 | 一箱一台 |
品牌 | 西尼科光学 |
型号 | XK-200 |
加工定制 | 否 |
属性 | 属性值 |
正置金相显微镜采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统,同时在落射照明系统中设计防反射结构,有效防止反射光干扰成像光线,从而使成像更清晰、视场衬度更好。
性能特点:
■提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。
■显微镜镜体采用全新的人机工程学设计,结构匀称,实现镜体扩展积木化。
■工作台、光强与粗微调的低位操作,提高了使用的舒适性。
■广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。
产品型号 | XK-200 |
光学系统 | 有限远色差校正光学系统 |
观察筒 | 铰链式双目,30°倾斜,360°旋转,瞳距调节范围:54-75mm, 双边±5屈光度可调;铰链式三目,固定式分光比, 双目:三目=80%:20% |
目镜 | PL10X高眼点平场目镜,线视场 18mm |
物镜 | 长工作距平场消色差金相物镜5X、10X、20X、50X |
偏光系统 | 简易偏光 |
转换器 | 内定位五孔转换器 |
调焦机构 | 粗微调同轴,带机械上限位和松紧调节装置, 粗调行程28mm,微调精度0.002mm |
载物台 | 双层机械移动平台,附设180X145mm平板平台, 移动范围:76mmX50mm |
反射照明系统 | 反射式柯拉照明 高照度LED芯片照明器 光强连续可调,带可变孔径光阑与视场光阑,视场光阑中心可调。 |
摄影装置 | 摄影接筒(带PK卡口),3.2X摄影目镜 |
摄像装置 | 1.0X C型摄像接筒 |
透射照明器 | 6V30W透射照明系统 |