品牌：[db:产品品牌]
产地：美国
类型：X荧光光谱仪
起订：1台
供应：11111100台
发货：10天内
| 产地 | 美国 |
|---|---|
| 类型 | X荧光光谱仪 |
| 色散元件 | X荧光光谱仪 |
| 探测器类型 | X荧光光谱仪 |
| 销售方式 | 直销 |
| 种类 | X荧光光谱仪 |
| 执行质量标准 | 美标 |
| 贸易属性 | 外贸+内贸 |
| 发货期限 | 10天 |
| 品牌 | 美国艾克 |
| 型号 | I-5000 |
| 加工定制 | 是 |
| 使用温度范围 | -45-50（℃） |
【联系人：钟生13377775524 Q3130093556】在合金分析分析应用方面，I-5000是理想的牌号鉴定和质量控制设备。
众所周知，钛合金质轻、硬度强、耐高温，主要应用在军事、航空航天、体育器材、医疗行业。钛合金在这类应用程序中的组件通常是高保部件，无损检测在这类应用中尤其重要。XRF荧光光谱仪可以快速、准确的分析钛系合金。
市场强大的分析工具
氦气净化探测仪增强对轻元素的检测
开放的自定义软件
轻元素分析（可选）
样品测试定位摄像头（可选）
检测能力
检测范围Cl（17）- U（92），可扩展到Mg（12）- U（92）元素
检测浓度低于10ppm（轻质基体中的大多数元素），金属合金<0.01%
X 射线产生器
X射线管阳极Au 或Ag 靶管，空气冷却，其他靶管可选
X射线发生器4-40KV（可调步长0.1KV）；
0-100μA（可调步长0.2μA）；功率4W
稳定性0.1% × 8小时以上
光束大小3 X 4 mm，（订制可达10mm）
X 射线探测器
标配探测器: Si-Pin (165 eV FWHM @ 5.9 kev),带电子制冷，有效面积6 mm
铍窗厚度:0.5 mil
可选探测器: 高性能SDD (<145 eV FWHM @5,95 keV)，有效面积25 mm
样品室
尺寸/重量：标准测试室：16” X 13” X 6.5”; 5.5kg
电 源：电池供电可达8小时
软 件
操作系统PDA采用Windows CE/Mobile；自动进行光谱校正/调整；用户自定义打印数据
数据采集时间：10-1200秒
光谱处理：谱峰自动查找；谱峰去卷积；背景消除；元素自动识别；背景之上的净峰强度
算 法：采用基本参数法（FP），二次多项式逐步回归分析法，手动光谱比较法
控制控制：X 射线源输出控制、数据采集系统参数设定、样品及滤波片选择（可选）
